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EDA考试复习试题及答案

时间:2018-02-01 17:03:34 EDA技术培训 我要投稿

EDA考试复习试题及答案

  EDA考试即将开启序幕,不知道做为考生的你准备好了吗?在此小编收集了一些复习题,供大家参考练习之用。

  一、选择题:(20分)

  1.下列是EDA技术应用时涉及的步骤:

  A. 原理图/HDL文本输入; B. 适配; C. 时序仿真; D. 编程下载; E. 硬件测试; F. 综合

  请选择合适的项构成基于EDA软件的FPGA / CPLD设计流程:

  A → ___F___ → ___B__ → ____C___ → D → ___E____

  2.PLD的可编程主要基于A. LUT结构 或者 B. 乘积项结构:

  请指出下列两种可编程逻辑基于的可编程结构:

  FPGA 基于 ____A_____

  CPLD 基于 ____B_____

  3.在状态机的具体实现时,往往需要针对具体的器件类型来选择合适的状态机编码。

  对于A. FPGA B. CPLD 两类器件:

  一位热码 状态机编码方式 适合于 ____A____ 器件;

  顺序编码 状态机编码方式 适合于 ____B____ 器件;

  4.下列优化方法中那两种是速度优化方法:____B__、__D__

  A. 资源共享 B. 流水线 C. 串行化 D. 关键路径优化

  单项选择题:

  5.综合是EDA设计流程的'关键步骤,综合就是把抽象设计层次中的一种表示转化成另一种表示的过程;在下面对综合的描述中,___D___是错误的。

  A. 综合就是将电路的高级语言转化成低级的,可与FPGA / CPLD的基本结构相映射的网表文件;

  B. 为实现系统的速度、面积、性能的要求,需要对综合加以约束,称为综合约束;

  C. 综合可理解为,将软件描述与给定的硬件结构用电路网表文件表示的映射过程,并且这种映射关系不是唯一的。

  D. 综合是纯软件的转换过程,与器件硬件结构无关;

  6.嵌套的IF语句,其综合结果可实现___D___。

  A. 条件相与的逻辑

  B. 条件相或的逻辑

  C. 条件相异或的逻辑

  D. 三态控制电路

  7.在一个VHDL设计中Idata是一个信号,数据类型为std_logic_vector,试指出下面那个赋值语句是错误的。D

  A. idata <= “00001111”;

  B. idata <= b”0000_1111”;

  C. idata <= X”AB”;

  D. idata <= B”21”;

  8.在VHDL语言中,下列对时钟边沿检测描述中,错误的是__D___。

  A. if clk’event and clk = ‘1’ then

  B. if falling_edge(clk) then

  C. if clk’event and clk = ‘0’ then

  D.if clk’stable and not clk = ‘1’ then

  9.请指出Altera Cyclone系列中的EP1C6Q240C8这个器件是属于__C___

  A. ROM B. CPLD C. FPGA D.GAL

  二、EDA名词解释,(10分)

  写出下列缩写的中文(或者英文)含义:

  1.ASIC 专用集成电路

  2.FPGA 现场可编程门阵列

  3.CPLD 复杂可编程逻辑器件

  4.EDA 电子设计自动化

  5.IP 知识产权核

  6.SOC 单芯片系统

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